原理使用新型光学元件配合同轴线光源可对光滑表面进行凹凸检测。光源上配有光栅元件当检测到凹凸点时条纹的成像就会发生变形此变形的位置即为凹凸点的位置。产品特点■透光性高, 均匀性好■设计配合同轴线光■特殊光学设计成像效果良好行业应用■光滑表面凹凸、划伤、黑点等缺陷检测应用案例1.反光膜曲面、凹凸点检测样品图1效果图12.手机偏光膜曲面、凹凸点检测样品图2效果图2说明对于光滑表面的凹凸点通过判断条纹的弯曲很容易找出缺陷位置放大缺陷。线阵检测面积大可根据样品的大小选择相对大的光源来满足视野的均匀性相对面阵更有优势。3.偏光膜轻微划伤等缺陷检测样品图3效果图3说明对于光滑表面的轻微划伤点常规的光源检测很难看到缺陷通过光栅同轴光源后缺陷部分呈现出栅格杂乱凸显出缺陷有利于机器视觉识别。
